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Langue

eng 3

Éditeur

Plenum press (New York) 2 PTR Prentice Hall (Englewood Cliffs (N. J.)) 1

Sujet

Microanalyse par émission X 3 Microanalyse par sonde électronique 1 Microscopie électronique à balayage 3

Auteur

Robert Edward Lee 1

Année

Avec couverture uniquement

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Couverture : Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis

Robert Edward Lee

1993

Couverture : Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

1992

Couverture : Advanced scanning electron microscopy and X-ray microanalysis

Advanced scanning electron microscopy and X-ray microanalysis

1986