Couverture : Advanced scanning electron microscopy and X-ray microanalysis

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Advanced scanning electron microscopy and X-ray microanalysis

Autre Première publication : 1986

Sujets

Microscopie électronique à balayage Microanalyse par émission X Microanalyse par sonde électronique

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Couverture : Advanced scanning electron microscopy and X-ray microanalysis

Advanced scanning electron microscopy and X-ray microanalysis

Plenum press (New York) · 1986 · 9780306421402