Couverture : Characterization of radiation damage by transmission electron microscopy

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Characterization of radiation damage by transmission electron microscopy

Mike L. Jenkins, Mark A. Kirk

Autre Première publication : 2001

Sujets

Matériaux -- Effets des rayonnements Matériaux -- Microscopie Microscopie électronique en transmission

Éditions (1)

Couverture : Characterization of radiation damage by transmission electron microscopy

Characterization of radiation damage by transmission electron microscopy

IoP (Bristol) · 2001 · 9780750307482