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Characterization of radiation damage by transmission electron microscopy

Mike L. Jenkins, Mark A. Kirk

Détails de l'édition

ISBN-13
9780750307482
ISBN-10
075030748X
EAN
9780750307482
Éditeur
IoP (Bristol)
Date de publication
1 janvier 2001
Langue
eng
Pages
224
Provenance des données
  • language BnF Catalogue général · 23 juillet 2026
  • page_count Open Library · 2 août 2026
  • publication_date BnF Catalogue général · 23 juillet 2026