Couverture : Parametric Statistical Change Point Analysis (DMV Seminar)

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Parametric Statistical Change Point Analysis (DMV Seminar)

Jie Chen, Arjun Kumar Gupta

Autre Première publication : 2000

Résumé

The world is filled with changes.

Sujets

Rupture (statistique)

Éditions (1)

Couverture : Parametric Statistical Change Point Analysis (DMV Seminar)

Parametric Statistical Change Point Analysis (DMV Seminar)

Birkhäuser (Boston) · 2000 · 9780817641696