Couverture : Artificial neural networks for the modelling and fault diagnosis of technical processes

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Artificial neural networks for the modelling and fault diagnosis of technical processes

Krzysztof Patan

Autre Première publication : 2008

Sujets

Réseaux neuronaux (informatique) Détection de défaut (ingénierie)

Éditions (1)

Couverture : Artificial neural networks for the modelling and fault diagnosis of technical processes

Artificial neural networks for the modelling and fault diagnosis of technical processes

Springer (Berlin) · 2008 · 9783540798712