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Spatial error analysis

a unified, application-oriented treatment

David Y. Hsu

Détails de l'édition

ISBN-13
9780780334533
ISBN-10
0780334531
EAN
9780780334533
Éditeur
IEEE press (New York)
Date de publication
1 janvier 1999
Langue
eng
Pages
217
Dimensions
27 cm
Provenance des données
  • dimensions BnF Catalogue général · 23 juillet 2026
  • language BnF Catalogue général · 23 juillet 2026
  • page_count BnF Catalogue général · 23 juillet 2026
  • publication_date BnF Catalogue général · 23 juillet 2026
  • subtitle BnF Catalogue général · 23 juillet 2026