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Scanning and transmission electron microscopy

an introduction

Stanley L. Flegler, John William Heckman, Karen L. Klomparens

Détails de l'édition

ISBN-13
9780716770473
ISBN-10
0716770474
EAN
9780716770473
Éditeur
W. H. Freeman (New York)
Date de publication
1 janvier 1993
Langue
eng
Pages
225
Dimensions
27 cm
Provenance des données
  • dimensions BnF Catalogue général · 23 juillet 2026
  • language BnF Catalogue général · 23 juillet 2026
  • page_count BnF Catalogue général · 23 juillet 2026
  • publication_date BnF Catalogue général · 23 juillet 2026
  • subtitle BnF Catalogue général · 23 juillet 2026