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Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis

Robert Edward Lee

Détails de l'édition

ISBN-13: 9780138137595
ISBN-10: 0138137595
EAN: 9780138137595
Éditeur: PTR Prentice Hall (Englewood Cliffs (N. J.))
Date de publication: 1 janvier 1993
Langue: eng
Pages: 458
Dimensions: 25 cm

Provenance des données

dimensions BnF Catalogue général · 23 juillet 2026
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